需求激增，半导体自动测试设备迎大考

宣布时间：2023-01-03 23:33作者：沈丛来源：中国电子报、电子信息工业网

泰瑞达UltraFLEX和UltraFLEXplus测试机台

在近日举办的“中国集成电路设计业2022年会暨厦门集成电路工业立异生长岑岭论坛”上，专家指出，随着新兴市场的不绝生长，半导体ATE（自动测试设备）迎来了千载难逢的生长时机。可是在ATE市场快速增长的同时，新兴市场也给ATE工业带来了新的挑战。

新兴半导体工业需求发动ATE市场增长

在半导体工业链中，一颗芯片的生命周期始于市场需求，在进行产品的界说、设计、制造、封装后，最终交付到终端消费者手中，在整个流程中需要经过多次测试。其中ATE测试不但在封装后要进行，在制造环节中也同样需要，是实现从研发到量产至关重要的一环。越高端、功效越庞大的芯片对测试的依赖度越高，同时测试设备的种种先进功效对半导体厂商来说也变得越来越重要。

随着新兴工业对半导体的需求越来越多、越来越富厚，ATE市场的增长十分迅猛。GIR调研数据显示，2021年全球半导体ATE设备收入约莫为40.7亿美元，预计2028年抵达50.01亿美元。

数据来源：GIR调研

泰瑞达公司中国产品专家于波体现，ATE市场的快速生长，主要是受到三个新兴半导体领域需求激增的发动。其一是数据中心以及先进盘算的业务，从2021年到2030年间的复合年均增长率达5%。其二是无线通信业务，随着5G通信和下一代通信基站的不绝生长，从2021年到2030年间无线通信业务的年复合增长率达6%。其三是汽车电子，这也是半导体市场里增长最快的细分领域，从2021年到2030年间的年复合率达13%。

数据来源：泰瑞达

挑战接踵而至

而谁能想象，新兴市场的昌盛为ATE设备带来巨大市场增长量的同时，也带来了重重困难。

据了解，测试计划的优劣直接影响到良率和测试本钱。有资料显示，芯片缺陷相关故障对本钱的影响从IC级别的数十美元，增长到�？榧侗鸬氖倜涝�，乃至应用端级别的数千美元。别的，目前芯片开发周期缩短，关于流片的乐成率要求很是高，任何一次失败，对企业而言都是无法蒙受的。因此，在芯片设计及开发历程中需要进行充分的验证和测试。

然而，由于ATE不属于工艺设备，因此产品迭代速度较慢，单类产品生命周期较长。市场目前主流的ATE多是在同一测试技术平台通过更换差别测试�？槔词迪侄嘀掷啾鸬牟馐�，并提高平台延展性。

“如今，许多玩家都很关注新兴市场，这也使得这些市场的竞争开始变得很是猛烈，使得市场对芯片迭代的需求越来越多，且产品的生产周期也在逐渐缩短。可是在这样的情况下，还需要包管芯片的质量切合要求，尤其是汽车电子领域，对芯片质量要求可谓是零失误。因此，关于芯片测试的要求也变得越发苛刻。”于波向《中国电子报》记者体现。

要获得更快的产品面世时间、更高的测试效率、更低的测试本钱、更高的质量，一系列关于ATE的新要求已经接踵而至。“这些要求对ATE而言是比较矛盾的，很难同时兼备。别的，从测试机的开发角度而言，也会遇到许多相互制衡的因素，例如，测试机的通道数量是否够、测试机是否能抵达高的测试密度等。”于波说。

除了新兴市场为ATE设备带来的挑战外，先进制程工艺芯片的测试也为ATE设备带来了很大挑战。

于波体现：“关于测试行业而言，从封装到先进封装，关于测试的要领并没有太大的变革，只是从测试战略上可能有一些区别。可是随着先进制程的生长，会给ATE设备带来一些挑战。先进制程芯片的硅片尺寸比较大，在测试时消耗的功率也比较大，用的资源也比较多，对测试时机有很大的压力。首先，这会导致测试本钱提升。其次，对测试机的各方面技术的要求也会提升，需要测试机具备更高的性能。最后，测试方法也需要有变革，需要针对先进制程开发新的测试要领。”

新的要领论破解难题

如何才华快速且高效地完成新一代ATE计划的开发，以满足市场对大宗出货、类型各异的芯片测试需求，成为了业界亟待解决的新难题。关于ATE厂商而言，究竟如何破解？

于波体现，关于ATE厂商而言，可以从三步来解决。首先，在开发测试工具时，关于新兴技术要具备一定的技术前瞻性和倾斜性，提前开发技术，从而节约本钱。“事实上，关于测试机供应商的厂商来说，无论车载芯片、工业芯片，其实测试的实质并没有爆发变革，大部分的研发是随着市场的偏向来的。可是由于最近两三年车载市场的年复合增长率确实很是高，因此整个研发偏向也会往这个偏向去倾斜。关于测试行业而言，也会向这个偏向倾斜，例如，提前研发出更多车载产品应用解决计划所对应的测试板卡等。”于波说。

其次，通过改善测试机的功效，来提升芯片测试的良率。虽然，芯片的良率大部分是由代工厂来决定，可是通过优化测试要领，也可以提高芯片的良率，从而提升产品的面世时间。于波认为：“通过测试提升芯片良率主要有两个方法：其一，在测试历程中修复一些设计中的缺陷，来提升界限良率，降低报废本钱。其二，提升测试规格的精密度，减少‘误伤’情况，把芯片测得更准。”

最后，在测试历程中，要对测试单位进行精简，减少不须要的环节，在提升芯片测试效率的同时，还能减少不须要的本钱消耗。

“在破解难题的历程中，往往也会开发出新的测试要领论甚至更深一层的相助模式。例如，在先进制程芯片的测试中，可以通过提升单位面积产出效率、加大电流及电压等方法，来提升芯片的测试效率。别的，如今各个新兴领域的竞争也进入到了白热化的阶段，各大系统厂商甚至纷纷开始自研芯片，这关于测试行业而言，更是一个很大的挑战，可是也增进了我们与上游设计厂商等进行更深度的相助，提前研制出芯片测试的方法以及标准，提升芯片的生产速度。”于波体现。

上一篇加速并购，中国EDA企业考虑“携手突围”

下一篇上海宣布计划适度超前开展绿色配套基础设施建设，包括新能源汽车充电桩等

分享到：

yh533388银河

需求激增 ，半导体自动测试设备迎大考

需求激增，半导体自动测试设备迎大考